為表面分析技術發展共同努力——BCEIA2019表面分析技術應用研討會成功召開
[導讀] 2019年10月24日，由北京理化分析測試學會表面分析專業委員會和廣東省測試協會表面分析專業委員會聯合舉辦2019年會，以“BCEIA 2019表面分析技術應用研討會”為主題在國家會議中心E235隆重舉行。
儀器信息網訊2019年10月23日，第十八屆北京分析測試學術報告會暨展覽會(BCEIA 2019) 學術報告會在北京國家會議中心盛大開幕。10月24日，由北京理化分析測試學會表面分析專業委員會和廣東省測試協會表面分析專業委員會聯合舉辦2019年會，以“BCEIA 2019表面分析技術應用研討會”為主題在國家會議中心E235隆重舉行。50余名表面分析技術相關領域的科研及技術人員齊聚一堂，共話表面分析科學及其應用技術的新發展。
大會開幕式由北京理化分析測試學會表面分析技術委員會副理事長姚文清主持，北京理化分析測試學會表面分析技術委員會常務副理事長劉芬、廣東省分析測試協會表面分析專業委員會秘書長謝方艷分別致辭。
北京理化分析測試學會表面分析技術委員會副理事長 姚文清
北京理化分析測試學會表面分析技術委員會常務副理事長 劉芬
廣東省分析測試協會表面分析專業委員會秘書長 謝方艷
在24日上午的會議上，中國科學院化學所趙耀副研究員、湖南大學Muhammad-Sadeeq Balogun(唐杰)教授、北京泊菲萊科技有限公司劉歡博士、姚文清高工分別帶來了精彩的學術分享。
中國科學院化學所 趙耀副研究員
報告題目：In Situ Liquid SIMS and Its Application on Analysis of Liquid Surface and Solid-Liquid Interface
飛行時間二次離子質譜技術（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry，TOF-SIMS）是一種非常靈敏的表面分析技術。在報告中，趙耀副研究員介紹了飛行時間二次離子質譜及其一些應用，并就他課題組對飛行時間二次離子質譜與電化學聯用技術方面的研究作了重點介紹。
湖南大學 Muhammad-Sadeeq Balogun(唐杰)教授
報告題目：Mechanism of Lithium Storage Properties at the Interface of Transition Metal Oxides and Carbon Fiber Hybrids
能源問題一直是各界關注的焦點，電能作為可再生能源將會被人類長期使用，但電能的儲存仍是一個難題，鋰離子電池以其良好的儲電效果一直被廣泛關注。湖南大學 Muhammad-Sadeeq Balogun(唐杰)教授的報告分為五個部分，介紹了他從事鋰離子電池研究的部分成果。
北京泊菲萊科技有限公司 劉歡博士
報告題目：光催化儀器設備實踐與應用
光催化反應是以半導體材料為主的多相反應體系，是光電物理與電化學高度耦合的“光-電-化”轉化過程。劉歡博士在報告中介紹了北京泊菲萊科技有限公司Labsolar 6A光催化系統的各項性能，以及他對光催化設備未來發展的一些展望。
清華大學 姚文清高工
報告題目：電子結構調控對光催化性能的影響
環境污染控制是全球關注的焦點，光催化氧化技術治理環境污染具有室溫降解、深度礦化、無二次污染等獨特的優勢。報告中，姚文清高工介紹了通過調控能帶結構、內建電場，提高光催化材料光生電荷分離遷移效率，增強降解污染物降解活性，提高可見光利用率。
現場提問互動環節
下午，暨南大學謝偉廣教授、中山大學謝方艷高工、PHI(China)Limited高德英特(北京)科技有限公司張偉、北京師范大學吳正龍教授級高工、中國科學院化學所劉芬副研究員、中國科學院大連化學物理研究所盛世善研究員分別進行了精彩報告，獲得了在場觀眾的一致贊揚。
暨南大學謝偉廣教授
報告題目：掃描探針顯微鏡在半導體材料及器件表界面分析中的應用。
掃描探針顯微分析技術可實現光電器件測試、表/界面跨尺度空間分辨的原位、實時的結構與光電性質的精確測量，報告中謝偉廣教授介紹了該團隊利用掃描探針顯微分析技術發現鈣鈦礦等材料的表/界面光子、電子等相互作用機理及規律研究工作。
中山大學謝方艷高工
報告題目：紫外光電子能譜在半導體研究中的應用。
紫外光電子能譜UPS（Ultroviolet Photoelectron Spectrometer）以紫外線為激發光源的光電子能譜。主要用于考察氣相原子、分子以及吸附分子的價電子結構。謝方艷高工介紹了利用UPS/XPS技術進行燃料電池、聚合物太陽電池、鈣鈦礦太陽電池等材料界面電子結構與界面相互作用的機理研究。
PHI(China)Limited高德英特(北京)科技有限公司張偉
報告題目：結合多種表面分析技術的應用。
XPS、AES、TOF-SIMS等表面分析技術在很多領域都有廣泛應用，張偉在報告中敘述了幾種表面分析技術在半導體材料中的應用。
北京師范大學吳正龍教授級高工
報告題目：電子能譜在薄膜分析中的應用。
吳正龍高工從事XPS研究多年，在報告中，他對使用XPS研究薄膜材料的物理性能及化學性能機理進行了介紹。
中國科學院化學所劉芬副研究員
報告題目：表面化學分析標準化與分析測試。
劉芬副研究員介紹了國際標準化委員會表面化學分析分委員會（ISO/TC201）與全國微束標準化委員會表面分析分委員會（SAC/TC38/SC2）工作程序及工作。
中國科學院大連化學物理研究所盛世善研究員
報告題目：光電子能譜方法--XPS測試中常見問題討論。
儀器只是分析檢測的一小步，得到的數據如何解讀是困擾研究人員的一大難題。盛世善研究員的報告針對XPS數據后期處理展開了討論與分析。
大會合影
