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國標(北京)檢驗認證有限公司
時間:2019-03-12      來源:中國分析測試協會



機構名稱:

國標(北京)檢驗認證有限公司

負責人:

孫澤明

郵編:

100088

聯系人:

高新秀

聯系人電話:

010-82241374

傳真:

010-62054704

證書編號:

NTC/C-2010-0005-R2

發證日期:

2016年11月29日

到期日期:

2019年11月28日

序號

領域代碼

技術代碼

技術名稱

限制范圍及說明

1

ATC

001

電感耦合等離子體原子發射光譜分析技術

2

ATC

002

火花源/電弧原子發射光譜分析技術

3

ATC

003

X射線熒光光譜分析技術

4

ATC

005

原子熒光光譜分析技術

5

ATC

006

原子吸收光譜分析技術

6

ATC

007

紫外-可見吸收光譜分析技術

7

ATC

011

液相色譜分析技術

8

ATC

013

固體無機材料中碳硫分析技術

9

ATC

014

固體無機材料中氣體成分(O、N、H)分析技術

10

ATC

017

電感耦合等離子體質譜分析技術

11

ATC

018

電化學分析技術

12

ATC

019

物相分離分析技術

13

ATC

020

重量分析法

14

ATC

021

滴定分析法

15

ATM

001.1

金屬材料拉伸試驗技術

16

ATM

002.1

金屬材料彎曲試驗技術

17

ATM

003.1

金屬材料扭轉試驗技術

18

ATM

004.1

金屬延性試驗技術

19

ATM

005.1

金屬硬度試驗技術

20

ATM

006.1

金屬材料斷裂韌度試驗技術

21

ATM

007.1

金屬材料沖擊試驗技術

22

ATM

008.1

金屬材料疲勞試驗技術

23

ATM

009

磨損試驗技術

24

ATM

010.1

金屬剪切試驗技術

25

ATM

011.1

金屬壓縮試驗技術

26

ATM

012.1

金屬落錘撕裂試驗技術

27

ATP

001

金相低倍檢驗技術

28

ATP

002

金相高倍檢驗技術

29

ATP

003

掃描電鏡和電子探針分析技術

30

ATP

004

透射電鏡分析技術

31

ATP

005

多晶X射線衍射技術

32

ATP

009

密度測量技術

33

ATP

010

熱分析技術

34

ATP

011

導熱系數測量技術

35

ATP

013

熱膨脹系數測量技術

36

ATP

015

電阻性能參數測量技術

37

ATP

017

彈性系數測量技術

38

ATP

020

粒度分析技術

39

ATP

021

比表面分析技術

 


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